Arbeitsgruppe Chemische Kristallographie und Elektronenmikroskopie             

Dr. rer. nat. Christian W. Lehmann Max-Planck-Institut für Kohlenforschung Kaiser-Wilhelm-Platz 1 45470 Mülheim an der Ruhr Tel.: +49 (208) 306 2174 FAX: +49 (208) 306 2989 E-mail: lehmann@mpi-muelheim.mpg.de

geb. 1964 in Berlin; 1984 – 1988 Chemie Studium FU-Berlin; Frühjahr 1988 Forschungsaufenthalt University of Pittsburgh (G. A. Jeffrey); 1990 Promotion in Kristallographie (P. Luger, FU-Berlin); 1991-1992 Post-Doc Queen-Mary-College London und University of Cardiff (M. B. Hursthouse); 1993 – 1997 Senior Research Officer, Durham University (Großbritannien); Frühjahr 1997 Gastprofessur Universtität von LaPlata (Argentinien); seit 1998 Arbeitsgruppenleiter am Max-Planck-Institut für Kohlenforschung in Mülheim an der Ruhr, Abtlg. Chemische Kristallographie und zusätzlich Elektronenmikroskopie ab 2008.

Mitarbeiter   

Röntgenanalytik   

Umfassende Unterstützung (Messung, Auswertung und Interpretation) bei allen aufgeführten röntgenanalytischen Verfahren.

	Einkristallstrukturanalyse von organischen und Metallorganischen Verbindungen mit modernen Flächenzählerdiffraktometern zur schnellen (Übernacht) Datensammlung. Insbesondere Luft-, Temperatur- und Feuchteempfindliche Verbindungen bei Temperaturen bis 100 K.
	Pulverdiffraktometrie zur Charakterisierung und Identifizierung von neuen Materialien. Ortsauflösende Debye-Scherrer-Kapillargeometrie für luftempfindliche Substanzen, Heizofen bis 1200 K; Bragg-Brentano-Diffraktometer mit Sekundärmonochromator.
	Mikrodiffraktion Mikrodiffraktometer mit Parallelstrahloptik und 2D-Flächenzähler zur Analyse kleinster Probenmengen (Mikrogrammaßstab) beziehungsweise Probenbereiche (= 50 µm). Probentranslation zur vollautomatischen Abrasterung auch unebener Proben.
	Kleinwinkelstreuung zur Untersuchung von mikroporösen Materialien und von Kolloiden sowie Nanokristallinen und amorphen Systemen.
	Röntgenfluoreszenzanalyse zur Elementaranalyse von neuen Materialien. Mikrobereichsanalyse (ø 100 µm) aller Elemente von Na bis U im ppm Bereich.
	Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) zur chemischen Oberflächenanalyse von Katalysatoren und Polymeren.

Forschungsgebiete   

High-Throughput Verfahren zur Kristallisation und röntgenographischen Analyse von Polymorphen.

Elektronenmikroskopie

Lehmann, Gebrauchsmuster 299 19861.8

Lehmann, C. W. US 6,507,636 B1, (2003)
Rapid X-ray Diffraction Screening Method of Polymorph Libraries Created in Multi-Well Plates.

Untersuchung von Elektronen- und Ladungsdichteverteilung durch hochauflösende Röntgenbeugung an bio-organischen Verbindungen mit dem Ziel konventionelle Struktur-Wirkungsbeziehungen um elektronische und stereoelektronische Effekte auf der Basis experimentell gewonnener Daten zu erweitern.

Howard, S.T.; Hursthouse, M.B.; Lehmann, C.W.; Poyner, E.A. (1995)
Acta Cryst. B51, 328-337. Experimental and Theoretical Determination of Electronic Properties in L-Dopa.

Neutronenpulverbeugung zur Strukturaufklärung mittels Rietveldmethoden und modernen Strukturlösungsverfahren. Bestimmung von anisotropen Verschiebungsparametern aus Neutronenpulverdaten für die Elektronendichteanalyse und Pulverdiffraktometrie bei tiefen Temperaturen an Verbindungen, die bei Normalbedingungen flüssig sind.

Lehmann, A.; Luger, P.; Lehmann, C.W.; Ibberson, R.M. (1994).
Acta Cryst B50, 344-348, Oxalic Acid Dihydrate - An Accurate Low Temperature Structural Study Using High Resolution Powder Diffraction.

Kristallzucht von tiefschmelzenden Substanzen mittels IR-Laser induziertem Zonenschmelzen an binären Gemischen zur Bildung von Wasserstoffbrückenbindungsgesteuerten Co-Kristallen (crystal engineering, Goddard)

Vollständige Publikationsliste

Letztes Update: 02.07.08